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在光互連技術(shù)飛速發(fā)展的今天，光電路板（Optical Printed Circuit Board, OPCB）作為實(shí)現(xiàn)板級光互連的核心載體，其性能評測的準(zhǔn)確性直接關(guān)系到整個(gè)系統(tǒng)的傳輸質(zhì)量。然而，許多工程師在OPCB的插入損耗、均勻性等關(guān)鍵參數(shù)測試中，常常面臨一個(gè)棘手的難題：測量結(jié)果中出現(xiàn)莫名的波動(dòng)或紋波，導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真、重復(fù)性差。這背后的元兇，往往是傳統(tǒng)光源的強(qiáng)相干性所帶來的干涉噪聲。
現(xiàn)在，synos（シナジーオプトシステムズ）推出的LSS002/850 850nm高輸出SLD光源，以其獨(dú)特的寬譜、低相干、高功率特性，為OPCB的精準(zhǔn)評測提供了一個(gè)“所見即所得"的理想解決方案。
OPCB內(nèi)部包含復(fù)雜的聚合物光波導(dǎo)、耦合器及多個(gè)連接界面。當(dāng)使用相干性高的激光二極管（LD）作為測試光源時(shí)，光線在這些多路徑結(jié)構(gòu)中傳輸，容易產(chǎn)生自干涉效應(yīng)，形成所謂的“散斑"或干涉紋波。
這些噪聲信號會(huì)疊加在真實(shí)的損耗曲線上，使工程師難以判斷：眼前的波動(dòng)，到底是波導(dǎo)本身的工藝缺陷，還是光源帶來的虛假信號？
LSS002/850給出了答案。 其核心是一顆超輻射發(fā)光二極管（SLD），它兼具了LED的寬譜特性（典型值30nm，F(xiàn)WHM）和LD的高輸出特性。30nm的半高全寬意味著極低的相干性，能夠有效抑制多光束干涉。用它測量OPCB，你得到的不再是布滿噪聲的起伏曲線，而是真實(shí)、平滑、反映器件本征特性的損耗數(shù)據(jù)——這才是真正的“所見即所得"。
抑制了干涉噪聲，還需要足夠強(qiáng)的信號來穿透OPCB的復(fù)雜光路。
LSS002/850在保持低相干性的同時(shí)，提供了高達(dá)約2mW的輸出功率（APC-SM光纖輸出端）。這一特性在測量長距離或高密度集成的光波導(dǎo)時(shí)尤為重要。足夠的光功率保證了接收端具有出色的信噪比（SNR）和動(dòng)態(tài)范圍，即使是微小的損耗變化也能被清晰捕獲，讓“精準(zhǔn)評測"不止停留在口號上，而是落實(shí)在每一組數(shù)據(jù)中。
對于研發(fā)階段的反復(fù)驗(yàn)證，或是量產(chǎn)線上的批量測試，光源的長期穩(wěn)定性是保證數(shù)據(jù)一致性和重復(fù)性的基石。
LSS002/850內(nèi)置了精密的自動(dòng)功率控制（APC） 和自動(dòng)溫度控制（ATC） 電路。根據(jù)實(shí)測數(shù)據(jù)，在開機(jī)老化1小時(shí)后，其輸出功率在1小時(shí)內(nèi)的變化小于0.5%，12小時(shí)內(nèi)的變化小于2%。這意味著，無論是進(jìn)行長時(shí)間的老化實(shí)驗(yàn)，還是跨批次的產(chǎn)品抽檢，LSS002/850都能為你提供一個(gè)恒定、可靠的參考基準(zhǔn)，有效避免因光源漂移導(dǎo)致的誤判。
憑借上述特性，LSS002/850在多個(gè)高精度測量領(lǐng)域展現(xiàn)出卓1越價(jià)值：
光電路板（OPCB）插入損耗測試：真實(shí)反映光路損耗，無干涉噪聲干擾。
聚合物光波導(dǎo)評估：寬光譜平滑特性，便于評估波導(dǎo)的傳輸均勻性和帶寬性能。
多模光纖及無源器件測試：作為穩(wěn)定的寬譜光源，適用于耦合器、分路器、光開關(guān)等器件的插入損耗和回波損耗測量。
近場/遠(yuǎn)場光斑分析：低相干性確保光斑分布圖像清晰、無散斑，有助于精準(zhǔn)分析出光特性。
在追求高速、高可靠性的光互連時(shí)代，測試工具的精度決定了研發(fā)的效率和產(chǎn)品的質(zhì)量。synos LSS002/850 SLD光源，憑借其寬譜低相干、高功率輸出、超1強(qiáng)穩(wěn)定性的三重優(yōu)勢，不僅解決了傳統(tǒng)測試中的干涉噪聲痛點(diǎn)，更為OPCB等精密光器件的評測樹立了新的標(biāo)準(zhǔn)。
